單離子注入聚焦離子束測(cè)試設(shè)備 量子和納米級(jí)材料工程的先進(jìn)平臺(tái) Q-One™是先進(jìn)的聚焦離子束平臺(tái)，用于先進(jìn)的器件制造和納米級(jí)材料工程。Q-One具有確定性單離子注入功能，是第一臺(tái)專門為滿足量子研究的苛刻要求而設(shè)計(jì)的儀器。

飛行時(shí)間二次離子質(zhì)譜測(cè)試設(shè)備，先進(jìn)的動(dòng)態(tài)TOF-SIMS系統(tǒng)，它使用直流主束的飛行時(shí)間分析儀，創(chuàng)建了成像質(zhì)譜的新范式。直流一次離子束的使用允許快速成像和連續(xù)數(shù)據(jù)采集（即沒有單獨(dú)的蝕刻周期），同時(shí)提供高空間和質(zhì)量分辨率。 特點(diǎn)： 離子束帶來高分子量分析和高空間分辨率 四種離子束可選擇 用氣體團(tuán)簇離子束SIMS，可以分析高達(dá)3000Da的分子量 無“僅蝕刻”循環(huán)的深度剖面。 快速、連續(xù)采集

球磨測(cè)厚儀-測(cè)試設(shè)備 控制單元自帶可編程的微處理器:速度，時(shí)間，球型，X，Y直徑，自帶LED光源，目鏡小刻度為0.02mm，自動(dòng)厚度校準(zhǔn)，工作時(shí)間范圍：1-30min，球型：10，15，20，25，30mm，球磨速度可控：200-1000tr/min。

涂層附著力檢測(cè)儀-測(cè)試設(shè)備 1.快速簡(jiǎn)易：壓痕并觀察壓痕效果 2.高性價(jià)比：寶石探針消耗低（劃痕儀的10倍使用壽命）

摩擦學(xué)測(cè)試設(shè)備 目的是滿足摩擦學(xué)的需要。為了增加機(jī)械部件的性能和可靠性，公司和大學(xué)研究越來越多的涂層和基底材料的摩擦參數(shù)和磨耗阻力。針對(duì)客戶的需求，我們開發(fā)了多種摩擦儀，可靠，易用，和一個(gè)低價(jià)格。

輪廓儀-測(cè)試設(shè)備 為了選擇佳涂層或基底材料，客戶有必要不僅僅檢測(cè)摩擦系數(shù)，也需要檢測(cè)磨損速率。磨損速率測(cè)量可以提供可靠的結(jié)果，這可以允許客戶來決定手否樣品能夠達(dá)到應(yīng)用需求和樣品可以服務(wù)的時(shí)間。

全自動(dòng)貼片機(jī)-材料設(shè)備 標(biāo)準(zhǔn)光學(xué)放大是持續(xù)可調(diào)的。這通過可調(diào)放大倍率達(dá)到高精度的放置器件。 該款是一款堅(jiān)固并且可靠的機(jī)械設(shè)計(jì)，操作簡(jiǎn)易，兼容性高的產(chǎn)品。

劃片機(jī)-材料設(shè)備 沿著中心線升高以便分離。薄膜層幫助元件阻攔污染或重壓。全部參數(shù)都由控制鍵盤設(shè)定。這是一款穩(wěn)定，抗振動(dòng)，和易操作的設(shè)備。