開爾文探針掃描可提供高分辨率的測試系統

　　開爾文探針掃描是一種非接觸、非破壞性振動電容裝置用于導電材料的功函或半導體或絕緣體材料表面的表面電勢，表面功函由材料表面頂部的1-3層原子或分子決定，因而開爾文探針是一種靈敏的表面分析技術，可提供高分辨率的測試系統。

　　探針掃描成為一種多功能工具包，可用于探索各種納米生物材料和分子的電學性質，進行的分析可以提供有價值的樣品信息，包括某些材料的表面電勢和功函數，被廣泛應用于材料科學，電子學和生物醫學領域，這種技術是用一個振動電容探針來工作的，通過調節一個外加的前級電壓可以測量出樣品表面和掃描探針的參比針尖之間的功函差，功函和表面狀況有直接關系的理論的完善成為一種很有價值的儀器，它能在潮濕甚至氣態環境中進行測量的能力使原先不可能的研究變為現實。

　　應用范圍：吸附，電池系統，生物學和生物技術，催化作用，電荷分析，涂層，腐蝕，沉積，偶極層形成，顯示技術，教育，光/熱散發，費米級掃描，燃料電池，離子化，MEMs，金屬，微電子，納米技術，相轉變，感光染色，光伏譜學，高分子半導體，焦熱電，半導體，傳感器，皮膚，太陽能電池，表面污染，表面化學，表面光伏，表面勢，表面物理，薄膜，真空研究，功函數工程學。

　　開爾文探針掃描是一款可以被大多數客戶所接收的掃描開爾文探針系統，它是在基礎之上包括了彩色相機/TFT顯示器、2毫米和50微米探針、外部數字示波鏡等配置，其規格如下：2毫米，50微米探針；針尖到樣品表面高度可以達到400納米以內；探針掃描或樣品掃描選配；彩色相機、調焦鏡頭、TFT顯示器和專業的光學固定裝置。